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国家标准《表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜(ESPM,如SSRM和SCM)空间分辨的定义和校准》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,TC38SC2(全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会)执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 中山大学广东工业大学暨南大学

主要起草人 龚力杨慕紫陈瑜张浩谢伟广谢方艳丁喜冬陈建

目录

标准状态

当前标准

GB/T 43661-2024 即将实施

表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜(ESPM,如SSRM和SCM)空间分辨的定义和校准

基础信息

标准号
GB/T 43661-2024
发布日期
2024-03-15
实施日期
2024-10-01
标准类别
方法
中国标准分类号
G04
国际标准分类号
71.040.40
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.40 化学分析
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
执行单位
全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会
主管部门
国家标准化管理委员会

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 13083:2015。

采标中文名称:表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜(ESPM,如SSRM和SCM)空间分辨的定义和校准。

起草单位

起草人

龚力
杨慕紫
谢伟广
谢方艳
陈瑜
张浩
丁喜冬
陈建

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