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国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所河北北芯半导体科技有限公司池州信安电子科技有限公司河北中电科航检测技术服务有限公司北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司广东科信电子有限公司佛山市川东磁电股份有限公司

主要起草人 冉红雷张魁张忠祥黄杰彭浩魏兵尹丽晶徐昕柯汉忠颜天宝刘银燕

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标准状态

当前标准

GB/T 4937.23-2023 现行

半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命

基础信息

标准号
GB/T 4937.23-2023
发布日期
2023-05-23
实施日期
2023-12-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-23:2011。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命。

起草单位

起草人

冉红雷
张魁
彭浩
魏兵
柯汉忠
颜天宝
张忠祥
黄杰
尹丽晶
徐昕
刘银燕

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